浅谈纳米粒度及zeta电位仪原理及功能认识
发表时间:2024-03-11     阅读次数:    

纳米粒度及zeta粒度仪是一种用于测量纳米材料电位和粒度分布的重要仪器。其原理基于电泳或电渗原理,通过测量纳米颗粒在电场作用下的移动行为,来获得其电位和粒度信息。

目前海鑫瑞科技的纳米粒度及zeta粒度仪不仅可以得到粒度、电位的数据之外,还可以得到分子量、温度/时间趋势、以及随着溶液PH的变化电位的变化数据等,

一机多用的科研好帮手

  首先,让我们了解一下粒度测量原理 :

纳米粒度及zeta粒度仪则是基于光散射原理进行测量。当一束激光照射在纳米颗粒上时,光的散射角度与颗粒的大小有关。通过测量散射角度,可以得到颗粒的粒度分布情况。

其次是电位测量原理:

  在Zeta电位纳米粒度仪中,通常使用电泳光散射法来同时测量纳米颗粒的电位和粒度。

在电场作用下,通过测量纳米颗粒的电泳速度和光散射强度,可以推算出其电位值和粒度分布。这种方法既具有高灵敏度,又能够快速分析大量样本。

此外,Zeta电位纳米粒度仪还具有非侵入性测量的优势,无需操作者与样品接触,避免了污染和干扰,确保了测量结果的准确性和可靠性。

  总的来说,纳米粒度及zeta粒度仪的原理是结合电泳和光散射技术,通过测量纳米颗粒在电场作用下的运动行为和光散射特性,来获得其电位和粒度信息。这种仪器在纳米材料的

研究和开发中具有重要的应用**,为材料科学、环境保护和生物医学等领域的研究提供了有力支持。




 
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