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Nano9200纳米粒度及zeta电位分析仪 功能

1、颗粒度测量

2、电位测量

3、分子量测量

Nano9200纳米激光粒度及zeta电位分析仪参数简介绍

颗粒粒度测量的性能特点：

1. gaoxiao的光路系统：采用固态激光器和一体化光纤探头搭建而成的光路满足空间相干性的要求，提高了散射光信号的信噪比，激光器波长为532nm，zuida功率50mW。
2. 高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比；采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。
3. 大动态范围高速光子相关器：采用以高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。
4. 高精度温控系统：基于半导体制冷装置，采用自适应PID控制算法，样品池温度控制范围为0°~120°，精度达±0.1℃。
5. 剔除灰尘的影响：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。
6. 优化的反演算法：采用优化拟合累积反演算法计算平均粒径以及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，粒度测量范围为0.3nm-15μm，测量结果的准确度和重复性均优于1%。
Zeta电位测量的性能特点：
1. 利用光纤将发射光路和接收光路集成在一起，替代传统电泳光散射装置的光路，利用光纤传输参考光和散射光信号，使光信号不易受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。
2. 先对散射光信号进行频谱估计，获取需要细化分析的频谱范围，然后使用线性调频变换频谱细化算法在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移，Zeta电位测量范围达到-600mV~+600mV。
3. 利用拟合算法获得精确的Henry函数表达式，基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，从而获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，进而有效提高了Zeta电位的计算精度